特殊封装

芯片检测设备 昂盛达推出5款测试设备,适用芯片,储能,快充,电池,电源测试

小编 2024-10-12 特殊封装 23 0

昂盛达推出5款测试设备,适用芯片、储能、快充、电池、电源测试

前言

每一款推向市场成功的产品背后都有无数次的实验与测试,经过多次测试,不断打磨出最优的方案,才能获得消费者的青睐。测试设备的好坏决定了工程师们研发产品的优劣与效率。昂盛达作为一家专精研发测试设备的企业,拥有丰富的研发和生产经验,产品稳定性好,为企业降本增效及高质量发展提供助力。最近昂盛达推出了分别适用于芯片、储能、快充、电池、电源的5款测试设备。

产品介绍

BMS芯片测试设备

昂盛达推出新款适用于BMS芯片的测试设备,单机支持24通道,支持多通道串联。型号为ASD-B2403-ATE。

支持安卓上位机、支持网口连接PC,标配USB、RS232接口。电压0~6V,分辨率0.1mA;

电流0~1A,分辨率1uA;动态相应快,电压上升时间低于5ms;纹波噪声小于30mVp-p。

储能产品及PCBA测试系统

昂盛达储能产品及PCBA测试系统适用于储能、适配器、PCBA及成品的功能检测、参数测试及性能评估。型号为ASD989+ASD-ACL2K+ASD906 2000W。

设备配备四路PD双向电源+2000W交流负载+2000W模拟电池,A口、C口、AC口、DC口、充电口、车充口等,所有端口一键测试。支持PD、QC、AFC、FCP、SCP、SSCP、VOOC、SVOOC、UFCS等多种协议,内置E-Mark功能。

快充自动测试设备

昂盛达发布最新快充自动测试设备,适用于电源适配器、电源PCBA及成品的功能检测、参数测试及性能评估。型号为ASD873+ASD661。

测试设备支持四路多协议负载模块+四路AC交流测试模块;支持PD、QC、AFC、FCP、SCP、SSCP、VOOC、SVOOC、UFCS等多种协议;支持电压48V,电流10A,功率 240W。配备4通道8端口输入,可同时测试4个2端口的产品。

电池内阻测试仪

ASD9120为昂盛达电池内阻测试仪,采用交流四端子法测量电池的内阻及电压。

测量电阻范围:10uΩ~300Ω,分辨率为0.01mΩ;

测量电压范围:-200V~200V,分辨率为1mV;

增益误差漂移:±20ppm/℃。

多协议双向电源

昂盛达还推出一款适用研发测试,既可作电源也可做负载的多协议双向电源。

设备支持PD、QC、AFC、FCP、SCP、SSCP、VOOC、SVOOC、UFCS等多种协议,支持电压48V,电流6A;支持功率240W。解析精度mV mA,拥有过流过载自动保护,支持E-Mark功能。

企业简介

深圳市昂盛达电子股份有限公司成立于2010年,致力于自动化仪器设备的研发和生产,公司拥有多项发明专利。昂盛达是一家专精特新技术和国家高薪技术企业,主要专注于快充类测试设备。

在消费电子的充电领域,昂盛达的测试设备一直保持较高的市场占有率,公司独立开发的基于Android平台的ASD SmartTest人机交互系统、集成模拟电池、交直流电源及负载等各种功能模块,兼容UFCS、PD、QC快充协议、以及华为、小米、OPPO、VIVO等各种私有快充协议, 拥有完整的知识产权。

作为新能源领域产品研发、产线测试的仪器设备及方案供应商,昂盛达独立开发的多系列产品已经广泛应用于半导体、电池及BMS系统、储能、充电桩、能量回收、老化实验等多个领域,为企业降本增效及高质量发展提供助力。

“昂盛达”寓意着“昂扬盛世,使命必达”!有担当、有奉献、有执行力、有创造力,是昂盛达精神!

探厂高手总结

昂盛达致力于自动化仪器设备的研发和生产,在消费电子的充电测试领域,拥有十足的行业经验。产品研发、产线测试的仪器设备及方案供应都是行业领先水平。此次推出的5款测试设备分别应用于不同产品类型,提供稳定高效的测试,帮助工程师开发出更好的产品,还可为企业降本增效及高质量发展提供助力。

南京芯视元取得芯片光学特性测试设备专利,设备批量测试效率高

金融界2024年9月27日消息,国家知识产权局信息显示,南京芯视元电子有限公司取得一项名为“一种芯片光学特性测试设备”的专利,授权公告号CN 221764851 U,申请日期为2024年1月。

专利摘要显示,本申请提供一种芯片光学特性测试设备,涉及芯片检测技术领域,包括用于承载待测芯片的载片单元,载片单元可沿待测芯片所在的平面移动;检测单元用于朝向待测芯片出射光线,并采集待测芯片反射的调制后的光线;运动单元用于驱动载片单元和检测单元沿预设路径运动;控制单元分别和载片单元、检测单元和运动单元电连接,以控制载片单元、检测单元和运动单元,测试待测芯片的参数。设备集成度高,无需人为改变光路即可测试所有参数,精度高,稳定性好,首次光路对准后无需再次进行调整,更换不同的待测芯片即可连续测试,批量测试效率高;设备支持多点测量,通过控制待测芯片移动,测量待测芯片表面各个区域的光学特性,方便分析比对。

本文源自金融界

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